Microscopes électroniques à balayage

JEOL 6010LV


 

RÉSOLUTION   

  • High vacuum mode
     4.0 nm à 20 kV
     8.0 nm à 3 kV
     15.0 nm à 1 kV
  • Low vacuum mode
     5.0 nm à 20 kV

GROSSISSEMENT

 8X à x 300kX

MODES D'IMAGERIE

  • en électrons secondaires (SEI)
  • en électrons rétrodiffusés (BEI)
 

Microanalyseur X à sélection d’énergie SDD QUANTAX et Détecteur pour la diffraction d’électrons rétrodiffusés (EBSD) e-Flash QUANTAX de la marque BRUKER


 
  • Résolution en énergie < 129 eV à MnKa
  • Taille 30 mm2
  • Refroidi par effet
  • Excellente performance en matière d'éléments légers et de faible énergie, gamme d'éléments B - Am
  • Imagerie CMOS
  • Résolution de l'image : 720 x 540 pixel
  • Vitesse : jusqu'à 520 images/seconde (fps)
  • L'acquisition et le traitement des données s'effectuent à l'aide de la même interface.

 


JEOL 7500F



 

RÉSOLUTION     

  • 1.0 nm à 15kV
  • 1.4 nm à 1kV (mode Gentle beam)
  • 2.0 nm à 1kV (mode SEM)

GROSSISSEMENT

  • 25X à1000kX

MODES D'IMAGERIE

  • en électrons secondaires (2 détecteurs SEI ou LEI)
  • en électrons rétrodiffusés (LABE)
  • en électrons transmis (TED)

POTENTIEL D'ACCÉLÉRATION

  • mode SEM : 0.5 à 30 kV (par pas de 10V de 0.5 à 2.9kV et par pas de 100V de 2.9 à 30kV)
  • mode GB : de 0.1 à 4 kV (par pas de 100V)

 

Microanalyseur X à sélection d’énergie JED-2300F


 
  • Détecteur: Ultra Nine 30
  • Taille 30 mm2
  • Refroidissement par azote liquide (Dewar 9,5l)
  • Résolution meilleure que 138 eV (FWHM) sur la raie du manganèse Ka
  • Détection à partir du Bore jusqu’à l’Uranium